Динамический тест контроля запоминающего устройства (Dynamic test) по ГОСТ 25492-82

Динамический тест контроля запоминающего устройства (Dynamic test) по ГОСТ 25492-82

Режим проверки запоминающего устройства, при котором записываемые данные с каждым циклом обращения меняются [из п. 43 ГОСТ 25492-82]

«Техническая документация»

Связь по эл. почте admin @ tdocs . su (без пробелов) или в форме Контакты.

Copyright © «Техническая документация» 2008. Заимствуйте наши материалы с блеском! При воспроизведении материалов портала обязательна установка активной гиперссылки на источник — страницу с этой публикацией на tdocs.su.

Яндекс.Метрика