ГОСТ 25492-82 Устройства цифровых вычислительных машин запоминающие. Термины и определения. Memories of digital computers. Terms and definitions. МКС 01.040.35 35.220 ОКСТУ 4001. Редакция от 05.04.2022.
Общие понятия ГОСТ 25492-82
Запоминающий элемент (Storage element) по ГОСТ 25492-82
Часть запоминающего устройства, предназначенная для хранения наименьшей единицы данных [из 2 ГОСТ 25492-82]
Ячейка запоминающего устройства (Storage cell) по ГОСТ 25492-82
Совокупность запоминающих элементов, реализующих ячейку памяти [из 3 ГОСТ 25492-82]
Виды запоминающих устройств ГОСТ 25492-82
Оперативное запоминающее устройство, ОЗУ (Random access memory, RAM) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, непосредственно связанное с центральным процессором и предназначенное для данных, оперативно участвующих в выполнении арифметико-логических операций [из 5 ГОСТ 25492-82]
Постоянное запоминающее устройство (Read-only memory, ROM) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, из которого может производиться только считывание данных [из 6 ГОСТ 25492-82]
Программируемое постоянное запоминающее устройство (Programmed read-only memory, PROM) по ГОСТ 25492-82
Постоянное запоминающее устройство, в котором запись или смена данных проводится путем электрического, магнитного или светового воздействия на запоминающие элементы по заданной программе [из 7 ГОСТ 25492-82]
Внешнее запоминающее устройство, ВЗУ (External storage) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, подключаемое к центральной части вычислительной системы и предназначенное для хранения большого объема данных [из 8 ГОСТ 25492-82]
Запоминающее устройство на магнитных сердечниках (Magnetic core film memory) по ГОСТ 25492-82
-[из 9 ГОСТ 25492-82]
Запоминающее устройство на тонких магнитных пленках (Magnetic thin film memory) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, в котором запоминающей средой является тонкий магнитный слой, нанесенный на подложку [из 10 ГОСТ 25492-82]
Индуктивное запоминающее устройство (Inductor memory) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, использующее индуктивные свойства примененной в нем запоминающей среды [из 11 ГОСТ 25492-82]
Оптоэлектронное запоминающее устройство (Optoelectronic memory) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, в котором используются свойства светового луча изменять физические соcтояния запоминающей среды [из 12 ГОСТ 25492-82]
Криогенное запоминающее устройство (Cryogenic memory) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, в котором используется свойство сверхпроводимости при низких температурах [из 13 ГОСТ 25492-82]
Полупроводниковое запоминающее устройство (Semiconductor memory) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, в котором запоминающей средой являются полупроводниковые элементы [из 14 ГОСТ 25492-82]
Запоминающее устройство на цилиндрических магнитных пленках (Plated wire memory) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, в котором запоминающей средой является тонкая магнитная пленка, нанесенная на поверхность проволоки [из 15 ГОСТ 25492-82]
Запоминающее устройство на цилиндрических магнитных доменах (Magnetic domain device) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, в котором запоминающими элементами являются цилиндрические магнитные домены в пластинах ортоферритов [из 16 ГОСТ 25492-82]
Конденсаторное запоминающее устройство (Capacitor memory) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, использующее емкостные свойства примененной в нем запоминающей среды [из 17 ГОСТ 25492-82]
Статическое запоминающее устройство (Static memory) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство без регенерации данных при хранении [из 18 ГОСТ 25492-82]
Динамическое запоминающее устройство (Dynamic memory) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство с регенерацией данных при хранении [из 19 ГОСТ 25492-82]
Энергонезависимое запоминающее устройство (Nonvolatile memory) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, содержимое которого сохраняется при отключенном электропитании [из 20 ГОСТ 25492-82]
Энергозависимое запоминающее устройство (Volatile memory) по ГОСТ 25492-82
Запоминающее устройство, содержимое которого не сохраняется при отключенном электропитании [из 21 ГОСТ 25492-82]
Способы доступа к данным, записанным в запоминающем устройстве ГОСТ 25492-82
Произвольный доступ к данным (Random access) по ГОСТ 25492-82
Способ доступа к данным, позволяющий обращаться к ячейкам запоминающего устройства в любой последовательности [из 22 ГОСТ 25492-82]
Последовательный доступ к данным (Sequential access) по ГОСТ 25492-82
Способ доступа к данным, позволяющий обращаться к ячейкам запоминающего устройства в определенной последовательности [из 23 ГОСТ 25492-82]
Ассоциативный доступ к данным (Associative access) по ГОСТ 25492-82
Способ доступа к данным, позволяющий обращаться к ячейкам запоминающего устройства в соответствии с признаками хранимых в них данных [из 24 ГОСТ 25492-82]
Системный доступ к данным запоминающего устройства на ферритовых сердечниках (Core ferrite memory organization) по ГОСТ 25492-82
Способ доступа к данным, определяемый системой организации запоминающего устройства на ферритовых сердечниках, характеризующийся количеством взаимодействующих адресных или адресно-разрядных токов.
Примечание - Различают системы 2Д, 2,5Д, 3Д [из 25 ГОСТ 25492-82]
Основные параметры запоминающих устройств ГОСТ 25492-82
Информационная емкость запоминающего устройства (Capacity) по ГОСТ 25492-82
Наибольшее количество единиц данных, которое одновременно может храниться в запоминающем устройстве [из 26 ГОСТ 25492-82]
Цикл обращения к запоминающему устройству (Access cycle) по ГОСТ 25492-82
Минимальный интервал времени между двумя последовательными доступами к данным запоминающего устройства [из 27 ГОСТ 25492-82]
Время выборки данных (Access time) по ГОСТ 25492-82
Интервал времени между началом операции считывания и выдачей считанных данных из запоминающего устройства [из 28 ГОСТ 25492-82]
Время хранения данных (Storage time) по ГОСТ 25492-82
Интервал времени, в течение которого запоминающее устройство в заданном режиме сохраняет данные без регенерации [из 29 ГОСТ 25492-82]
Скорость передачи данных из (в) запоминающего(ее) устройства(о) (Data transfer speed) по ГОСТ 25492-82
Количество данных, считываемых (записываемых) запоминающим устройством в единицу времени [из 30 ГОСТ 25492-82]
Режимы работы запоминающих устройств ГОСТ 25492-82
Запись данных (Write) по ГОСТ 25492-82
Режим работы запоминающего устройства, в процессе которого осуществляется занесение данных в запоминающее устройство [из 31 ГОСТ 25492-82]
Считывание данных (Read) по ГОСТ 25492-82
Режим работы запоминающего устройства, в процессе которого осуществляется получение данных из запоминающего устройства [из 32 ГОСТ 25492-82]
Считывание данных с разрушением (Destructive read) по ГОСТ 25492-82
Режим работы запоминающего устройства, в процессе которого осуществляется считывание данных, вызывающее их стирание [из 33 ГОСТ 25492-82]
Регенерация данных (Refresh) по ГОСТ 25492-82
Режим работы запоминающего устройства, в процессе которого осуществляется перезапись хранящихся данных с целью их сохранения [из 35 ГОСТ 25492-82]
Хранение данных (Holding) по ГОСТ 25492-82
Режим работы запоминающего устройства после записи или регенерации данных, обеспечивающий возможность их последующего считывания в произвольный момент времени [из 36 ГОСТ 25492-82]
Основные функциональные узлы запоминающих устройств ГОСТ 25492-82
Запоминающий узел (Memory unit) по ГОСТ 25492-82
Функциональный узел запоминающего устройства, предназначенный для непосредственного хранения данных [из 38 ГОСТ 25492-82]
Узел считывания данных (Sensing unit) по ГОСТ 25492-82
Функциональный узел запоминающего устройства, предназначенный для преобразования локальных физических состояний запоминающей среды в электрические сигналы [из 39 ГОСТ 25492-82]
Узел записи данных (Writing unit) по ГОСТ 25492-82
Функциональный узел запоминающего устройства, предназначенный для преобразования электрических сигналов в локальные физические состояния запоминающей среды [из 40 ГОСТ 25492-82]
Тесты контроля запоминающих устройств ГОСТ 25492-82
Статический тест контроля запоминающего устройства (Static test) по ГОСТ 25492-82
Режим проверки запоминающего устройства, при котором первоначально записанные данные не меняются [из 41 ГОСТ 25492-82]
Тест «Тяжелый код» контроля запоминающего устройства по ГОСТ 25492-82
Статический тест контроля запоминающего устройства, позволяющий получить максимальный сигнал помехи считанного нуля [из 42 ГОСТ 25492-82]
Динамический тест контроля запоминающего устройства (Dynamic test) по ГОСТ 25492-82
Режим проверки запоминающего устройства, при котором записываемые данные с каждым циклом обращения меняются [из 43 ГОСТ 25492-82]
Тест «Дождь» контроля запоминающего устройства по ГОСТ 25492-82
Динамический тест контроля запоминающего устройства, в котором записываемая информация определяется состоянием двоичного счетчика считанных единиц [из 44 ГОСТ 25492-82]
